Post date: Jul 26, 2009 3:01:48 AM
DFT(design for test)是重要的微电子硬件设计概念,意思是说在设计集成电路时,就把测试逻辑电路也设计进去,这样方便未来的测试工作.
考虑到近期部门内被延误的deadline,我打算建议我们组也采用DFT的理念在嵌入式软件内部加入方便debug的模块.这样,在软件出错终止运行后,可以根据各模块在debug模块中留下的历史记录来找出存在的bug.考虑到现在的debug过程非常耗时,采用这一方法,保守估计可以节省20%的测试时间.
SFR(study for review)是我提出的应试概念.意思就是说,在前一轮的学习中,以方便下一轮复习为目标留下必要的记号,不求理解掌握所有问题,但求下一轮复习能更加高效,集中,最终缩短总的复习时间,或在有限时间内完成最多轮的复习.本科期间为了减少复习周期,不管是对付上万的GRE单词,还是对付3天之后的某门期末考试,我都用这一理念指导复习.
最近GMAT的复习也是采用了这一方法.对于CR和RC,我在做完3本OG和GWD之后,就没有做新题,除了整理出每种题型的应试思路外没有其他动作.对于SC,我把OG,GWD和新老PREP全部做完,然后整理难题集,然后反复看,每看一遍筛掉一部分题目,留下一点笔记.等到最后一轮时,剩下30道题左右,可以在10分钟内能看完一遍.因为最后一个月不在复习状态,常常偷懒,所以只进行了3轮,而且最后两轮都是考试前两天才做完的,笔记也只整理出十几条,但是SFR的方法还是保证了我能掌握SC的常考点.
无论是做项目还是复习GMAT,时间都是稀缺资源.如何用时间换取进度,DFT和SFR给出了一种思路.